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行业资讯

涂层测厚仪探头的选择

更新时间：2018-06-05

       涂层测厚仪探头选择：

     A.磁性法：F型测头（只对导磁物体生效）

     当测尖与覆盖层接触，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。

    B.涡流法：N型测头

   利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的硬度。